超高分解能 透過型 電子顕微鏡 利用案内
（広島大学利用者向け）
○下記設備は大学連携研究設備ネットワークへ登録されている
全国学術機関共同利用装置です。
| 分類 | 機器名 | メーカー・型式 | 設置場所 | 設備 管理者 | 簡易予約 |
|---|---|---|---|---|---|
| 電子 顕微鏡 |
(低温・機器) 超高分解能 透過型 電子顕微鏡 |
日本電子製 JEM-2010 |
自然科学 研究支援 開発センター 低温・機器 分析部門 J103 |
前田 誠 | 簡易予約 リンク |
以下の案内に同意の上、ご利用下さい。
概要
○ナノメートルオーダーでの組織観察,電子線回折像を用いた結晶の同定,付属のEDS（日本電子製 JED-2300T）を用いた極微小領域の化学組成分析を実行できます。
○OLYMPUS製のMEGAVIEW（サイドマウントカメラ）とCANTEGA（ボトムカウントカメラ）の二台のCCDカメラを装備しております。
装置を初めて利用される場合(講習会について)
○自然科学研究支援開発センター（以後N-BARD）低温・機器分析部門物質科学機器分析部に登録されている他の装置同様に，年度毎にご提出いただく利用申請書の提出が無ければご利用になれません。( 年度利用申請 をご参照下さい。)
○利用にあたり相互利用（直接測定）及び依頼測定の予約は，大学共同利用機関法人・自然科学研究機構・分子科学研究所にて管理されている予約システム「大学連携研究設備ネットワーク」にて行って下さい。( 利用のための学内手続き をご参照下さい。)
○装置を初めて利用される方は、必ず担当者より講習を受けて下さい。講習を受けなければ装置の利用はできません。
○全学講習会は、毎年5月中旬から下旬にかけて開催しております。また、それとは別に希望があれば随時開催しております。
まずは担当者にご連絡下さい。
相互利用（直接測定）
予約について
○利用時間に応じて次の予約時間設定があります。
（各種料金については上記設備の大学連携研究設備ネットワーク 利用可能研究設備詳細 利用料金にてご確認下さい。）
（祝日も予約可能です。＊センター業務の都合により予約不可能な場合があります）
○利用予定２時間前まではキャンセルが成立しますが，その後は原則100%のキャンセル料が発生しますので，ご注意下さい。
カードキーの貸し出しと返却
○各時間外測定(平日17:00～翌9:00,または土,日,祝日)を利用される際には，測定室にオートロックが掛かりますので、カードキーの貸し出しを行います。
- N-BARD低温・機器分析部門の事務室 受付時間 内に
カードキーの受け取りと返却を行って下さい。 - カードキーの受け取りに 時間外使用届 が必要ですので予めご準備下さい。
- カードキーは午前中に返却して下さい。
- カードキーを紛失又は損傷した場合には，弁償を求めますので大事に保管して下さい。
- 祝日の測定を予約された場合には，カードキーの受け取りにご注意下さい。
利用について
○予約時間を厳守して下さい。
○ TEM 使用申込書 (直接測定) に必要事項を漏れなく，ご記入のうえ事務室までご提出下さい。
（支払い責任者の印は不要です。）
○備え付けの使用簿に必要事項を漏れなく記入して下さい。
○装置にトラブルが発生した場合には，速やかに担当者又は当施設関係者へ申し出て下さい。
○過失による装置等の破損や不具合に対しては，修理費を請求することがありますので，ご了承下さい。
依頼測定
○予約の際に希望日の設定を頂いた場合でも，ご希望に添えない場合があります。
あらかじめご了承下さい。（＊超過が想定される場合は担当者よりご連絡致します。）
○依頼測定を行う場合は、予約を取る前に必ず装置担当者と打ち合わせを行って下さい。
○試料作製に関しても相談に応じます。まずは、担当者にご連絡下さい。
○利用時は TEM 使用申込書 (依頼測定) を事務室に毎回提出して下さい。
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