極微小結晶用単結晶構造解析システム（高温測定用）
ブルカー製SMART-APEX II 利用案内（広島大学利用者向け）

○下記設備は大学連携研究設備ネットワークへ登録されている
全国学術機関共同利用装置です。

分類機器名メーカー・型式設置場所設備
管理者		簡易予約
X線
解析		 (低温・機器)
極微小結晶用
単結晶構造
解析システム
（高温測定用）		 ブルカー製
SMART-APEX II		 自然科学
研究支援
開発センター
低温・機器
分析部門
J107		 水田 勉 簡易予約
リンク

以下の案内に同意の上、ご利用下さい。

概要

○高温領域用装置として登録されていますが，通常の運用は液体窒素温度から100℃付近まで簡単な設定で測定できます。
○100℃以上600℃までの測定では、安定したガス流を保つため吸い込みアタッチメントを取り付ける必要があります。
使用希望者には取り付け方を説明しますので、予約の際に連絡してください。
○測定に必要な試料固定用ピンは測定者にてご準備ください。

装置を初めて利用される場合

○ご利用を検討される方は担当者（河田：内線2483）までお問い合わせください。

○自然科学研究支援開発センター（以後N-BARD）低温・機器分析部門物質科学機器分析部に登録されている他の装置同様に，年度毎にご提出いただく利用申請書の提出が無ければご利用になれません。( 年度利用申請 をご参照下さい。)
○利用にあたり相互利用（直接測定）及び依頼測定の予約は，大学共同利用機関法人・自然科学研究機構・分子科学研究所にて管理されている予約システム「大学連携研究設備ネットワーク」にて行って下さい。( 利用のための学内手続き をご参照下さい。)

相互利用（直接測定）

予約について

○利用時間に応じて次の予約時間設定があります。
（各種料金については上記設備の大学連携研究設備ネットワーク　利用可能研究設備詳細　利用料金にてご確認下さい。）
（祝日も予約可能です。＊センター業務の都合により予約不可能な場合があります）

予約単位1時間単位での予約可能です。
・必要な時間を予約して下さい。

カードキーの貸し出しと返却

○各時間外測定(平日17:00～翌9:00,または土,日,祝日)を利用される際には，測定室にオートロックが掛かりますので、カードキーの貸し出しを行います。

  • N-BARD低温・機器分析部門の事務室 受付時間 内に
    カードキーの受け取りと返却を行って下さい。
  • カードキーの受け取りに 時間外使用届 が必要ですので予めご準備下さい。
  • カードキーは午前中に返却して下さい。
  • カードキーを紛失又は損傷した場合には，弁償を求めますので大事に保管して下さい。
  • 祝日の測定を予約された場合には，カードキーの受け取りにご注意下さい。

利用について

○予約時間を厳守して下さい。
○使用申込書に必要事項を漏れなく，ご記入のうえ事務室までご提出下さい。
（支払い責任者の印は不要です。）
○備え付けの使用簿に必要事項を漏れなく記入して下さい。
○装置にトラブルが発生した場合には，速やかに担当者又は当施設関係者へ申し出て下さい。
○過失による装置等の破損や不具合に対しては，修理費を請求することがありますので，ご了承下さい。

依頼測定

○依頼測定を行う場合は予約を取る前にまず装置担当者と打ち合わせを行ってください。
○依頼測定では測定のみで解析は含まれません。

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